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產(chǎn)品名稱:上海物光X-4B 顯微熔點(diǎn)儀

上海物光X-4B 顯微熔點(diǎn)儀
  • 上海物光X-4B 顯微熔點(diǎn)儀
  • 所屬分類:熔點(diǎn)儀
  • 品 牌: 上海物光
  • 型 號(hào):X-4B
  • 產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

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  • 上一頁(yè):上海物光WRX-1S顯微熱分析儀

    下一頁(yè):上海物光SGW®-630圖像熔點(diǎn)儀

  • 產(chǎn)品介紹
  • 詳細(xì)參數(shù)
  • 選配附件
  • 測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。


    規(guī)格參數(shù)

    熔點(diǎn)測(cè)量范圍室溫至320℃
    測(cè)量重復(fù)性

    ±1℃ (在<200℃ 時(shí))

    ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))

    溫度顯示最小值0.1℃
    熔點(diǎn)觀察方式雙目顯微鏡
    光學(xué)放大倍數(shù)40-100X

    標(biāo)簽:物光  電子天平

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