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能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE是一款專用于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實(shí)現(xiàn)降低運(yùn)作成本和更易維護(hù)的同時，以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達(dá)到自動化分析為目標(biāo)。 根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，所以完全可以應(yīng)對RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析。另外，最近幾年在眾多企業(yè)中實(shí)施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時推薦該裝置作為中國版RoHS第二階段應(yīng)對手段。
配備只針對RoHS法規(guī)有害5元素+氯元素所需的篩選分析功能
盡可能將需要熒光X射線分析知識的操作步驟自動化，可進(jìn)行RoHS法規(guī)5元素+氯元素（選配）的高速篩選分析。EDX-LE從開始分析到得到結(jié)果只需要（根據(jù)樣品）約1分鐘。不僅可進(jìn)行高速篩選分析，同時維持了高可信性的分析水平
配備篩選輕松設(shè)定功能，能夠根據(jù)管理方法輕松自定義
在日常操作中根據(jù)產(chǎn)品的不同會經(jīng)常變更管理值，而該產(chǎn)品可以根據(jù)管理方法對篩選分析條件輕松自定義。從開始分析到制成分析報告所有操作都可以更有效的進(jìn)行。另一方面，該裝置在軟件操作上配備了權(quán)限限制設(shè)定，從而避免了沒有變更篩選分析條件權(quán)限的人員由于誤操作而改變條件的現(xiàn)象。
篩選分析的簡單設(shè)定
根據(jù)材質(zhì)和元素設(shè)定閾值。根據(jù)閾值的輸入方法來變更篩選分析的判定方式。閾值設(shè)定可依據(jù)根據(jù)材質(zhì)的不同所顯示的閾值下限。
在分析報告中如何表示分析結(jié)果“低于閾值”“灰色區(qū)域”“閾值范圍內(nèi)”，也可自定義設(shè)置。
分析報告的模版也可以設(shè)定。可在隨機(jī)附帶的模版中選擇。
條件保護(hù)功能
通過輸入密碼可變更篩選分析條件和環(huán)境設(shè)定等各類設(shè)定條件，從而提高軟件操作的安全性和保密性。
RoHS、鹵素、Sb元素篩選分析套件
在RoHS/ELV、鹵素篩選分析基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)Sb元素的測定
無需改造硬件
僅需替換管理樣品
RoHS指令、鹵素和Sb元素的7種元素(Cd,Pb,Hg,Br,Cr,Cl,Sb)能夠在「同一條件」下進(jìn)行測定
※初次導(dǎo)入時需要本公司工程師進(jìn)行軟件設(shè)定的變更及性能確認(rèn)。
※根據(jù)使用環(huán)境的不同有可能出現(xiàn)需要軟件升級的情況。
規(guī)格
| 材 質(zhì) | 聚乙烯樹脂 |
| 大 小 | 48mm |
| 厚 度 | 5mm |
| 添加元素 | Cd, Pb, Hg, Br, Cr, Cl, Sb |
可以同時進(jìn)行Sb元素的篩選分析
RoHS指令、鹵素和Sb元素的7種元素能夠在“同一條件”下進(jìn)行測定。
EDX-LE測定Cl、Sb
塑膠中Cl、Sb
塑膠中Cl、Sb不同濃度の光譜比較
和RoHS篩選分析同樣，EDX-LE 也可進(jìn)行Cl、Sb的篩選分析。特別是Cl篩選分析可直接在大氣環(huán)境下進(jìn)行，大氣環(huán)境中Ar和Cl的峰值區(qū)分明顯。
RoHS/ELV篩選專用機(jī)型EDX-LE同樣具備一般分析功能！
導(dǎo)入后特點(diǎn)
1. 可進(jìn)行RoHS/ELV對象元素以外的定性·定量分析！
2. 根據(jù)分析目的的不同，可設(shè)定詳細(xì)的分析條件和解析條件！
3. 可通過薄膜FP法分析多層膜的膜厚、組成及其附著量！
4. 可通過匹配功能進(jìn)行鋼種及種類的判斷！
使用功能追加套件的分析實(shí)例
分析實(shí)例（左：不銹鋼的定性?定量分析，右：鍍層的膜厚測定）
匹配功能（鋼種、種類判斷）
匹配結(jié)果
注）根據(jù)樣品材質(zhì)、膜層材質(zhì)及膜厚的不同，有可能出現(xiàn)不適用本套件的情況。
